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DUALSCOPE FMP40測(cè)厚儀安裝指導(dǎo) 安裝指導(dǎo): 一.安裝PC-Datex軟件。安裝結(jié)束后,打開Microsoft Excel,點(diǎn)擊工具菜單欄下的加載宏選項(xiàng), 再按瀏覽鍵,在剛才的安裝目錄下找到并點(diǎn)擊PcDatex95后按確定,此時(shí)應(yīng)出現(xiàn)如下窗口:
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X-RAY XAN310熒光射線材料分析及鍍層測(cè)厚儀 FISCHERSCOPEB X-RAY XAN 310高性價(jià)比的緊湊入門級(jí)X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀,用于快速、無損分析鍍層厚度及合金成分FISCHERSCOPE X-RAY XAN 310是一款X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀,特別適用于基本鍍層厚度及合金成分的無損分析。
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菲希爾XDLM-pcb200 來自德國(guó)菲希爾Fischer的XDLM-PCB測(cè)量印制電路板上鍍層厚度及成分分析的入門級(jí)、耐用型測(cè)量?jī)x。用于測(cè)量和分析印刷電路板上的涂層厚度和成分的X射線熒光測(cè)量?jī)x器。FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB儀器是專門用于測(cè)量和分析印刷電路板上的涂層厚度和成分的堅(jiān)固耐用的入門級(jí)儀器。
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德國(guó)fischer膜厚儀 X射線熒光測(cè)厚儀 XULM特別適合測(cè)量細(xì)小的部件如連接器,觸點(diǎn)或線,也可以測(cè)量印刷線路板上的Au,Ni和Cu鍍層厚度。即使80nm的很薄的金鍍層也可以用測(cè)量點(diǎn)為Ø0.25mm的準(zhǔn)直器測(cè)量,20秒的重復(fù)精度可達(dá)2.5nm。
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Fischer X-RAY XUV773 X射線熒光鍍層測(cè)厚儀 FISCHERSCOPE X-RAY XUV儀器配有一個(gè)可抽真空的大型測(cè)量箱。其所裝備的大面積硅漂移探測(cè)器能夠探測(cè)低至1 keV的熒光輻射能量,從而能夠有效地測(cè)量元素Na、Mg以及元素Zn、Cu、Ni的L輻射。